9月11日，2023慕尼黑武漢光電子設備元光電子設備元器件展(Electronica China)在武漢國家會展公司公司舉辦，此屆展覽會以“整合不斷科技創新、智引未來”居多題，匯集半導、無源光電子設備元器件、智能化網聯&新能量車輛、感知器、接入器、供電開關、整車線束電纜線、供電、檢查自動測量、印上電源廠家、光電子設備元光電子設備元器件加工服務培訓、一流加工等廠家，定制從成品制定到工藝應用起飛的橫貫制造業上游的工藝專業展示會平臺網站，以不斷科技創新工藝增強國光電子設備元光電子設備元器件制造業進步。

        普賽斯設備著手于于半導體資料設備資料考試中檔紫裝的產的化，攜全系統半導體資料設備資料電耐腐蝕性考試莊股的產品及半導體資料設備資料教育領域從資料、晶圓到電子元器件考試滿足策劃方案出席這一次博覽會，打動比較多建筑技術工程師和行業內體驗式者趕來體驗式交流電。

        測試測試測試測試量測是所有電子產業的發展高服務品質把控的能夠的科技手段，半導體集成電路芯片據生產激光加工節點各種不同，高服務品質把控構成前道判斷、中道判斷和后道測試測試測試測試。前道判斷稱作為時候藝判斷，指向晶圓制作，撿查光刻、刻蝕、聚酰亞胺膜形成、的清洗、CMP等晶圓制作節點后服務激光加工運作需不需要高達方案追求或會出現影響到良率缺陷報告，偏重電磁學性判斷；中道判斷指向先進的打包封裝，以光電等非學習式的科技手段而對重步線構成、凸點與硅通孔等晶圓制作節點的高服務品質把控；后道測試測試測試測試通常指向晶圓判斷（CP，Circuit Probing）和生產設備測試測試測試測試（FT，Final Test），撿查集成電路芯片功能方面需不需要按照追求，偏重電功能方面判斷。

        以半導的電效能自測，普賽斯義表實地現場展出了數字化生產制造的源表系(SMU)、單激光激光脈沖激光恒流源 (FIMV)、高電壓力電源線適配器 (FIMV、FVMI)、單激光激光脈沖激光恒壓源或參數顯示采樣卡八種類別企業產品，包函整流源表、單激光激光脈沖激光源表、窄單激光激光脈沖激光直流電壓大小源、集成系統插卡式源表、高控制表面粗糙度的很大直流電壓大小源、高控制表面粗糙度高電壓力電源線適配器、參數顯示采樣卡等國產系列化電效能自測義表，其比較穩相關性、靠普性、同樣性取到廣泛應用的整個市場驗證通過。、

        焦聚第三步代半導體行業飛速成長下企業主存在的危機和挑戰模式，普賽斯儀盤表副部門經理部門經理兼新產品開發技術否則人王承與廠房特邀嘉賓采取了更深刻境界的淺析。

SiC/IGBT功率半導體器件測試

        重要性SiC/IGBT元電子元器件封裝在公測中存在的的測禁止、測不全、安全性或者利用率低的現象，普賽斯儀容儀表選擇一個因為日本產化高精密等級金額源表(SMU)的公測解決方案，符合最好的公測功能、更準確性的測量最終、更高一些的安全性與更進一步的公測功能。兼有高直流電壓(3500V)和大直流電壓(6000A)功能、μΩ級導通阻值高精度測量、nA級直流電壓測量功能等性能。兼容高壓電形式下測量工作效率元電子元器件封裝結濾波電解電容器（電解電容器器），如導入濾波電解電容器（電解電容器器）、輸出的濾波電解電容器（電解電容器器）、反向的方式給回高速傳輸濾波電解電容器（電解電容器器）等。

GaN功率半導體器件測試

        爭對氮化鎵(GaN)以及砷化鎵(GaAs)等物料包括的飛速元器件封裝的I-V各種公測軟件，普賽斯電子儀表升級版研發推出的CP品類激光單脈沖造成的信號造成的恒壓源能夠 優質高效解決方法各種公測軟件難以解決的問題。軟件兼具激光單脈沖造成的信號造成的電流量最快可至10A、激光單脈沖造成的信號造成的總寬最低可低至100ns；扶持交流電、激光單脈沖造成的信號造成的四種端電壓輸出狀態等優勢。軟件可技術應用于GaN的自熱滯后效應，激光單脈沖造成的信號造成的S技術參數各種公測軟件等地方。

專業機器設備銀石賽道長坡厚雪，國產車混用要求極強。普賽斯設備將不斷時間創新技術，迅速推動了高新家產發展鏈高低游合作項目連動，以不錯的食品與服務管理保駕護航投資者建立高新家產保值增值，共赴可不斷時間未來的!