1、MPD晶圓測試
測試設備：脈沖激光源表P300+檢測(ce)器臺(tai)
異常現象：測試中存在一個(ge)3nA左右的(de)漏電(dian)流
異常原因：測試現(xian)場(chang)的(de)(de)連接線(xian)屏蔽(bi)層(ceng)接地(di)不(bu)達標，外界電(dian)(dian)磁環境的(de)(de)作(zuo)用下使設備對大(da)地(di)的(de)(de)電(dian)(dian)位發生變化，造(zao)成設備工作(zuo)不(bu)穩定 優化措施：將屏蔽層接地 2、三極管測試 測試設備：2臺直流電(dian)源源表S300+探頭臺 異常現象：源表輸出0-3V的電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)掃描，當輸出的電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)小于0.5V時，源表回讀的電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)值(zhi)為-0.5V 異常的誘因：測(ce)試英(ying)文(wen)電極(ji)臺如果沒(mei)有(you)與(yu)地面(mian)，測(ce)試英(ying)文(wen)電極(ji)臺設備構造上發(fa)生(sheng)彩石，在通電的的的環境下能發(fa)生(sheng)靜電，然(ran)后(hou)對測(ce)試英(ying)文(wen)然(ran)而(er)引致后(hou)果 調整預防措施：將檢測器臺(tai)能夠 接地(di)線是接入山河 3、芯片測試 測試設備：交(jiao)流電源(yuan)表S300+測試探(tan)針(zhen)臺 異常現象：源表未內容輸(shu)出，檢測器冒小(xiao)火花(hua)
圖：十分公(gong)測-探(tan)頭冒火星子
異常原因：三同基準面纜GUARD手機信息浮空。GUARD手機信息如無線連接準確，其電勢與手機信息層大多不符，因此漏電非常小，而對手機信息為了好幾個定的養護意義；同時GUARD手機信息浮空，其與手機信息層的電勢差比較大的，這類漏電比較大的，對手機信息的導致較大 優化措施：將GUARD移(yi)動數據(ju)信(xin)息聯(lian)接源(yuan)表，使GUARD移(yi)動數據(ju)信(xin)息具有防護反應
4、PD測試
測試設備：直流源表(biao)S300+探(tan)針臺
異常現象：源(yuan)表在100nA的量程下，輸出-2V電壓，實際顯示(shi)-2.69V
圖：異(yi)常處理測試儀最后
異常原因：客(ke)戶(hu)使(shi)用的同軸線接觸不良，探針臺沒有接地 優化措施：更(geng)換新(xin)的同(tong)軸線(xian)，將探針臺(tai)通過導線(xian)接入(ru)大地 圖：提升后公測(ce)導(dao)致
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