普賽斯PL 一系列窄輸(shu)入脈沖(chong)功率源(yuan)可應用領域于 VCSEL 還(huan)有(you)其它須得窄輸(shu)入脈沖(chong)獎(jiang)勵的測試英(ying)文(wen)景象(xiang)。

PL 產品裝置(zhi)有2個檢(jian)修通道：

① 、恒流電脈(mo)沖表揚源，并能同步軟件測量待測電子器件的兩端(duan)輸出(chu)功(gong)率；

② 、電磁激光(guang)(guang)電流量(liang)自動衡(heng)量(liang)過道，尤(you)其是(shi)用在于用于外置PD 的方案自動衡(heng)量(liang)電磁激光(guang)(guang)光(guang)(guang)輸出；

PL 產品(pin)系列環保設備能打印輸出以上五(wu)種正(zheng)弦波形圖(tu)：正(zheng)弦波形圖(tu)的高(gao)難度技巧、步進電(dian)機值(zhi)、單(dan)脈(mo)沖最大數(shu)等均可程控。

① 、直流變壓器恒流；

② 、直流電(dian)壓測(ce)試(shi)工作電(dian)流；

③ 、脈(mo)沖信號直流電壓交流電；

④ 、電(dian)磁掃描機直流電(dian)壓；

實用(yong)普(pu)賽斯PL 系例窄(zhai)脈(mo)沖發生(sheng)器LIV測(ce)評(ping)測(ce)評(ping)軟(ruan)(ruan)件(jian)系統軟(ruan)(ruan)件(jian)的(de)做(zuo)測(ce)評(ping)測(ce)評(ping)軟(ruan)(ruan)件(jian)框圖給出(chu)：通(tong)常有 PL 系例機(ji)、專(zhuan)用(yong)箱連接方(fang)式(shi)線(xian)、測(ce)評(ping)測(ce)評(ping)軟(ruan)(ruan)件(jian)板、積分規(gui)(gui)(gui)則(ze)卡(ka)球、待(dai)測(ce)離子束器、光閱(yue)讀 PD 組合(he)成(cheng)。 VCSEL 離子束器一樣輸(shu)出(chu)光輸(shu)出(chu)巨大，而 PD 的(de)閱(yue)讀輸(shu)出(chu)較小，必(bi)須 實用(yong)積分規(gui)(gui)(gui)則(ze)卡(ka)器做(zuo)光輸(shu)出(chu)的(de)衰(shuai)減(jian)，同一時(shi)間積分規(gui)(gui)(gui)則(ze)卡(ka)球的(de)反射(she)性性質(zhi)使(shi)離子束器系統軟(ruan)(ruan)件(jian)的(de)對離子束器光入射(she)角并而不是(shi)至關刺激性。

環保設備輸送(song)有(you)這一個(ge)4g訊(xun)號(hao)：LD+ 、 LD- 、 S+ 、 S- 、 PD+ 、 PD- ，另外(wai) LD+ 、 LD- 為恒流源輸送(song)獎勵激勵4g訊(xun)號(hao)， S+ 、 S- 為待測(ce)(ce)電子元器件(jian)端電壓測(ce)(ce)定(ding)4g訊(xun)號(hao)， PD+ 、 PD- 為外(wai)置 PD 測(ce)(ce)定(ding)4g訊(xun)號(hao)。

為要確(que)保訊號(hao)輸出(chu)精(jing)度(du)線(xian)質量(liang)，PL 產品設施須要操作的(de)普(pu)賽斯環保定制家(jia)具的(de)唯一性相連線(xian)，也從考(kao)試板(ban)到(dao)待測元集成電(dian)路芯(xin)(xin)片要時應避免連線(xian)，盡量(liang)簡單(dan)將元集成電(dian)路芯(xin)(xin)片氬弧焊于考(kao)試板(ban)上或(huo)操作的(de) socket 。

為做到待測器(qi)材電流(liu)測定的(de)準(zhun)確無誤性，S+ 、 S- 須要(yao)在待測器(qi)材引(yin)腳(jiao)背(bei)短接至 LD+ 、 LD- ，請(qing)切實將 S+ 、 S- 進(jin)行連接至待測器(qi)材引(yin)腳(jiao)背(bei)，不應馬(ma)上在測試板上自由(you)短接。