
作為國內率先實現高精度數字源表(SMU)產業化的半導體測試裝備優質供應商,普賽斯儀表副總經理王承博士受邀出席并發表《SiC馬力半導傳感器各種測試的挑戰及需要對》主題演講。

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會上,普賽斯儀表副總經理王承博士闡述了如何準確可靠地實現SiC功率器件的測試方案,以新能源領域車規級功率器件參數測試為切入點,分享了在新能源領域功率器件成套解決方案等方面的關鍵舉措。本場演講重點介紹了普賽斯儀表實驗室、高低溫、產線半自動/全自動等功率半導體靜態參數測試解決方案,廣泛適用于(yu)從(cong)實驗室到小批量、大批量產線的全方位應用,幫助國產功(gong)率半導體(ti)廠商加(jia)快研發(fa)測試以及批量化生產進程。
普賽斯輸出配件靜止運作測試儀系統化,是武漢普賽斯經過精心設計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統。該系統不僅提供IV、CV、跨導等多(duo)元化的測試功(gong)能,還具(ju)備(bei)高精度、寬(kuan)測量范(fan)圍、模(mo)塊(kuai)化設(she)計(ji)以(yi)及便捷(jie)的升級擴展等顯著優勢。其設(she)計(ji)初衷(zhong)在(zai)于(yu)全面(mian)滿(man)足(zu)從基礎功(gong)率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬(kuan)禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模(mo)塊(kuai)的靜態參數表(biao)征和(he)測試需求,確保(bao)測量效率、一致性(xing)與可靠(kao)性(xing)的優異(yi)表(biao)現。

PMST最(zui)大功率電(dian)子元器件冗余性(xing)能檢驗模式

PSS TEST冗余高溫度過(guo)低半一鍵測試(shi)方法系(xi)統化

PMST-MP 靜態數據性能半重新(xin)化檢測設備

PMST-AP 靜(jing)態變量基本參(can)數全電腦智能(neng)化考試平(ping)臺
大電流輸出響應快,無過沖

高壓測試支持恒壓限流,恒流限壓模式

普賽斯儀表作為半導體電性能測試領域的權威解決方案供應商,始終秉持創新技術與匠心精神的融合,深耕于功率半導體市場。
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